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pcb常见问题和检测方法 pcb板检测步骤及过程

时间:2022-04-29 10:05:18 来源:PCBA 点击:0

pcb常见问题和检测方法 pcb板检测步骤及过程

PCB在线功能测试系统的主要制约因素是其反驱动程序的吸收/施加电流能力过强,隐藏被测芯片输入脚的故障现象。例如,大部分芯片的输入销阻抗都很高(大于1兆欧姆),但是当输入销的内部功能被破坏时,其针脚阻抗可能降低到约20欧姆,从而在驱动输入销的芯片中产生风扇,从而产生电路故障。因为多芯片只能驱动输出约10毫安的电流。然而,在一般的反向驱动测试设备中,可以驱动阻抗20欧姆的输入销,并且在原始输入销中发生故障的芯片也可以通过功能测试。QT200能够驱动8欧姆以上的节点(未满8欧姆视为短路)是Qtech系列的检查设备系统的主要问题。

一、PCB在线检查的步骤

一般检查PCB的流程图

PCB一般设备类型:

1、栅极电路/组合逻辑器件

例如:740070408等

ICFT,可以使用QSM/VI进行测试。

2、定时设备/触发器、计数器

例如:747492等

ICFT,可以使用QSM/VI进行测试。

3、总线设备(三态输出)

例如:74245、74244、74374等

ICFT,可以使用QSM/VI进行测试。

4、PAL,ROM,RAM

例:27641464

可以使用ICFT进行测试。

5、LSI设备

例如:82558088、Z80等

ICFT,可以使用QSM/VI进行测试。

6、用户专用芯片

QSM/VI方式测试

PCB考试失败原因:

1、芯片功能损坏

2、速度/时机的问题

3、芯片管脚状态(悬架、高阻、时钟、不正确连接)

4、OC门线或状态

5、风扇有问题

ICFT考试结果的分类:

1、考试合格

2、测试失败

3、设备未完全测试

4、设备相同

5、设备比较不同

二、PCB在线功能测试中出现不同测试结果的处理方法

1、出现ldquo。测试失败。结果时

1)确认测试治具上芯片是否正确,是否与测量芯片连接良好。管脚确认是否从状态窗口检测到开路管脚(显示HIZ、电源装置管脚。我修改了这些问题之后再测试。

2)结果为ldquo时测试失败。将鼠标移动到管脚状态窗口后,单击左键设置显示管脚阻抗。将发生错误的管脚阻抗与其他相同功能的管脚阻抗进行比较。如果芯片的输出销发生测试错误,请确认该销是否与其他输出销的阻抗一致(注意此时的阻抗是芯片带电时测得的对地阻抗)。

3)比较的阻抗大致相等时,降低测试时基或阈值,再次测量。如果这次考试合格的话,表示这个芯片上发生的测试错误是时间问题。这可能是输出销与电容元件连接,通过电容的放电过程,输出销状态的反转变慢。如果通过调整时基或调整了界限值的测试,则可掌握设备没有损坏的90%,并转移到下一个芯片测试中。

时基或即使调整了界限值测试也不合格时,确认是否需要设置独立性。如果不需要隔离,直接进入5步。

4)从治具状态中发现测试失败的原因是输出销没有达到正常的逻辑水平时,降低测试阈值进行测量。此时,如果以相对缓慢的阈值通过测试,则说明该芯片所承受的负荷过重,芯片自身的输出驱动能力变差,不能吸收或施加通常负荷所需的电流。在这种情况下,用户必须特别注意。处理方法是在被测板的加电和无电两种状态下,再测试该输出脚的对地阻抗,也可以使用QSM/VI方式在被测板的加电和无电两种状态下,测试该芯片的各输出脚的VI曲线。

5)比较所测得的各输出脚的对地阻抗,在不接通电的情况下测得的阻抗大致相等,在接通电时发生测量错误的输出脚的阻抗比其他输出脚的阻抗高的情况下指示该芯片的功能被损坏((高阻不能吸收或释放需要电阻状态的电流),并且应该交换该芯片。

6)比较各输出脚的VI曲线,当某个输出脚的阻抗明显低于其他输出脚的阻抗时,表示该腿受到的扇出负载有问题。检测连接到该管脚的所有芯片输入销的阻抗,发现其中的真实短路点。

为了进一步查明问题的原因,可以用扁口钳钳切断被测芯片中发生测试错误的输出销,进行再测试。此时如果测试合格,就会明确芯片是连接负荷的问题。

2、出现ldquo。设备没有完全测试rdquo。结果时

1)测定芯片的输出销在测试中不反转(即在测试窗口中维持固定高电位或低电位)时,系统提示ldquo。设备没有完全测试rdquo。(如果显示该提示,则画面的波形窗口中不会显示测试错误。)。例如,当7400短地连接到非门的输入销时,对应的输出销总是高电平,当测试芯片时,显示上述提示。

2)如果用户具有被测量板的电路原理图,则能够容易地判断该芯片的管脚连接状态是否正常。

3)用户学习了棋盘的情况下,学习到的芯片的正常连接状态也被记录。测试不良板时,系统会自动比较好板的学习结果,如果比较结果不同,说明不良板有非法连接;如果比较结果相同,则可以不考虑ldquo。设备没有完全测试rdquo。请参照。

4)当被测量芯片是OC设备时,被设计为电路上的ldquo。线条或rdquo;在状态下,芯片的输出可能受到与存储器PCB在线或相关联的其他芯片的影响。例如,当一个码片的输入逻辑将输出固定到低电平时,测量码片的输出也固定到低电平,并且此时即使对该芯片系统进行测试也呈现ldquo。设备没有完全测试rdquo。应当特别注意,这种设备用户建议通过使用QSM/VI方案比较测试芯片上的所有相同功能管脚的VI曲线来确定故障点。

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